مولد الإشارات tG115

أبرز الملامح

• نطاق تردد يتراوح بين 100 كيلو هرتز و15 جيجاهرتز، يغطي متطلبات عالية مثل الواجهة الأمامية للموجات المليمترية والجيل الخامس والأقمار الصناعية.
• دقة عالية التردد: معدل تقادم القاعدة الزمنية ± 1 جزء في المليون/سنة، ثبات درجة الحرارة ± 0.1 جزء في المليون.
• ضوضاء منخفضة الطور تضمن دقة بيانات الاختبار
• نطاق ديناميكي عريض: يصل إلى 130 ديسيبل بعد المخفف الاختياري، وهو مناسب لاختبار مدى الطاقة الكبير.
• وظيفة تعديل شاملة، تدعم المصادر الداخلية والخارجية. تعديل تناظري: تعديل تناظري: AM/FM/ΦM، وعمق التعديل، وانحراف التردد، وانحراف الطور قابل للتعديل. تعديل النبض: نسبة التشغيل إلى الإيقاف ≥70 ديسيبل، تدعم المشغّل الخارجي ومدخلات التسلسل. مصدر LF مدمج: جيب ومربع ومثلث بترددات تصل إلى 500 كيلوهرتز.
• أوضاع مسح متعددة لاختبار أكثر كفاءة. وضع المسح: المسح المتدرج/القائمة، يدعم ما يصل إلى 65535 نقطة مسح. وضع التشغيل: تلقائي، خارجي، يدوي، قابل للتكيف مع عمليات الاختبار المعقدة.
• تصميم حامل قياسي، سهولة التكامل. يسمح ارتفاع 2U، مع طقم تركيب الحامل القياسي، بالاندماج السهل في أنظمة الاختبار.
• واجهات غنية : LAN/USB/RS-232، تدعم التحكم عن بُعد SCPI.